HS코드 품목분류 결정례

관세평가분류원

품목분류3과-12531

Resistivity Tester ; RT-70V

본 물품은 4point probe(4탐침법) 측정이론에 의해 저항 측정을 하는 계측 테스터로서, 기록장치를 갖추고 있지 않음 측정원리 측정대상물의 저항을 측정하기 위해 4point probe를 접촉시키고 정전류를 인가한 후, 전압을 측정하고, 전류값과 전압값을 이용해, 본 물품 내부의 마이크로컴퓨터에서 저항값을 계산함 계산된 저항값은 본 물품의 디스플레이 창에 표시됨 Probe 및 Stage는 본 물품에 포함되지 않음 측정 항목별 측정 범위 V/I Ratio(저항) : 1.0m ~ 3.0M ohm Sheet resistance(면저항) : 5.0m ~ 10.0M ohm/sq Resistivity(비저항) : 1.0u ~ 300.0k ohm.cm 측정대상물 Silicon ingot, bulk Silicon Wafer ITO, Metal 막 등 (신청물품 앞,뒤) (신청물품과 Stage의 구성 예) (신청물품 카다로그의 application) (비저항 측정) (면저항 측정) (conductive thin film) (ITO glass) (실리콘 잉곳과 웨이퍼) (Ion implantation silicon wafer) (graphene(신소재)) (측정대상물 이미지)