HS코드 품목분류 결정례

관세평가분류원

품목분류3과-20193

INDUSTRIAL MICROSCOPE(L200N)

물품의 개요 웨이퍼를 Loading & Unloading 하는 기능이 장착되고, 반도체 웨이퍼의 표면 검사하여 불량 검출하는 광학식 현미경 물품의 형태 및 구성요소별 기능 NWL200 : 외관검사하기 위해서 웨이퍼를 Loading & Unloading 기기 ① Feeder arm : Magazine에 있는 Wafer를 이송하는 Unit ② Buffer section : Wafer를 검사하기 위해 Vacuum으로 고정하는 Unit ③ Elevator section : Magazine 1~25 Slot move Unit ④ fiber optic illumination : 조명 unit ⑤ emergency stop button : 비상정지 버튼 ⑥ USB LAN : 통신 PORT ⑦ Operation/display section : 설비 운영을 위한 조작판넬 L200N : 고배율로 웨이퍼 표면 검사하여 불량 검출 ① Exchange arm : NWL200 => L200N move Unit ② IC inspection microscope : 고배율 현미경 ③ Dedicated stage : X-Y Axis move stage ④ Theta rotation knob : knob을 이용하여 Wafer 360° 회전하여 검사 ⑤ fine movement handle : X-Y Axis 미세동작 이동 handle ⑥ Coarse movement handle : X-Y Axis 큰 동작 이동 handle⑦ Dedicated microscope base plate : L200N전용 plate 카메라 : 현미경에서 관찰된 상을 별도의 PC 화면으로 전달하는 디지털카메라(신청물품에는 제시되지 않은 물품) 본 신청물품 모델의 완성된 상태는 카메라가 장착된 상태이나 사전심사 신청물품은 위 설명한 물품에서 디지털 카메라가 없는 상태로 수입되며, 사진을 저장하기 위한 저장장치도 없음. 본 신청물품은 제시된 상태에서 카메라 기능이 없는 일반 광학현미경처럼 시료의 관찰이 가능한 기기 렌즈의 배율에 따라 100배~1,000배 확대가능